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X 射线粉末衍射的新起点—Rietveld 全谱拟合

简介： XRD的定量分析，尤其是多相晶体的定量分析，一直是XRD的应用难点，传统的定量分析方法包括内标法、外标法等。但是，这样的分析只能针对单相或简单物相有用，且从本质上讲还是半定量，工程应用可能性极小。 XRD-Terra使用Rietveld 全谱拟 详细>
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