简介:X射线荧光光谱法进展(11)
——XRFA技术进展
1.10 高级次谱线分析方法
在传统X射线荧光分析仪器上,只进行一级次谱线的鉴定,通常使用在PHD(脉冲高度分布,即波长色散X射线荧光的能量谱)分析时,把除一级次谱线的其它高级次谱线简单删除。当高级次谱线对一级次谱线干扰严重时,这种方法即达不到去除高级次谱线的目的。把PHD的能量范围继续增加,直到鉴定到全部高级次能谱,然后分别转换扣除高级次谱线后的一级次谱线对应的波谱,和扣除一级次谱线后的高级次谱线对应的波谱,然后标志峰形和重叠处理显示。构成高级次谱线分析方法。
高级次谱线分析方法,对于长期以来X射线荧光分析中困难的超轻元素和中重金属元素分析问题,从另一方面提供了解决方法。
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