您现在的位置:首页 > 资料中心 > 分析方法/应用文章下载 > 戴安应用文献之-AN119半导体刻蚀酸中阴离子型氟化物表面活性剂的测定 下载

戴安应用文献之-AN119半导体刻蚀酸中阴离子型氟化物表面活性剂的测定

简介:全氟化表面活性剂在半导体酸蚀刻溶液中起润湿剂的作用。酸蚀刻剂能够在二氧化硅材质上雕刻出细的划痕。在半导体的制作中,如果酸蚀刻剂的润湿性不好可能有气泡生成,这些气泡会附着在刻蚀表面,影响信号。可以通过增加少量的表面活性剂减少气泡的形成,从而提高溶液的润湿性。
  • 所需积分:0 分
  • 下载次数:642 次
  • 获取积分:页面上方
  • 资料大小: 310 KB
  • 上传人: 色谱及痕量元素分
  • 上传日期:2005-09-21
相关阅读
  • 资料微信群
  • 我的下载

相关评论

您的评论:推荐
还可以输入500
    上传资料
    一键询价
    仪器信息网资料中心栏目所发布的一切文档、图谱等资源仅限于学习和研究目的,版权归原属作者所有;不得将上述内容用于商业或者非法用途,否则,一切后果请用户自负。您必须在下载后的24个小时之内,从您的电脑中彻底删除上述内容。如果您喜欢该资源,请支持正版,以便得到更好的正版服务。如有侵犯到您的权益,请联系我们(download@instrument.com.cn)处理,感谢您的合作!

    安装App资料免费下

    资料微服务您的资料助手