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ITO导电箔膜便携式电阻率仪便携式硅晶块电阻率方阻测试仪KDK-KDY-1B

简介：便携式电阻测度仪是用来测量硅晶块、晶片电阻率及扩散层、外延层、ITO导电箔膜、导电橡胶等材料方块电阻的小型仪器。 本仪器按照半导体材料电阻率的国际及国家标准测试方法有关规定设计。 它主要由电器测量部份（主机）及四探头组成，需要 详细>
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