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A&D密度天平资料

简介：直接测量 　使用天平测量质量和量具测量物体的体积，一般用于液体或规则形状体积的密实固体．因体积计算需要采样量较大和受固体形状影响． 间接测量法 　使用天平测量质量和采用参考比照物测量物体的体积，一般用于非规则形状固体和有空隙的固体．因适用面广比较常用．通常我们使用阿基米德定律来作间接测量.
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