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GBT 4937.17-2018 半导体器件 机械和气候试验方法 第17部分：中子辐照.pdf

简介：1 范围 GB/T 4937的本部分是为了测定半导体器件在中子环境中性能退化的敏感性。本部分适用于集成电路和半导体分立器件。中子辐照主要针对军事或空间相关的应用，是一种破坏性试验。试验目的如下： a)检测和测量半导体器件关健参数的退化与 详细>
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