简介: X射线荧光光谱法进展(5)
——XRFA技术进展
1.3 粒子激发X射线发射(PIXE)分析
由粒子(如质子、α粒子等)激发的X射线发射分析,自20世纪70年代出现以来己发展为一门相当成熟的核分析技术。国际上平均每年的论文数约为120篇。近年来最为注目的发展是经良好聚焦的带电粒子束可提供优于1μm的分辨率。加上PIXE良好的检出限,可以使检出的元素降至10-17g/μm,目前己广泛应用于生物、环境、医学、地球化学、固体物理及考古等领域。
PIXE-XRF是一种用粒子轰击原级靶,产生近乎单色X射线的XRF分析方法。与传统PIXE相比有二个优点:通过选择合适的原级靶材,可消除样品中主量元素所引起的谱线干扰;其次,大大减轻了对试样的损伤,利用透射靶比用反射法获得的特征X光产额高二个数量级,使薄、厚样的检出限达到亚ppm级。
通常要用加速器把兆电子伏能量的质子或α射线束以几毫弧度的立体角入射到样品表面,可检测到1010原子/cm2 。
最著名的PIXE应用是轻便α粒子光谱仪被发射到火星上,探测火星的岩石和土壤。