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工业中的 SEM 和 EDS 分析

简介：随着工业过程复杂化的增加，需要更严格、更高质量的分析，以确保产品符合所有质量和可靠性标准。由于扫描电镜（SEM）可以提供样品表面微观结构的详细（纳米级）信息，因此已成为实验室进行现代研发以及失效分析和故障排除的常用工具。扫描电镜通常与 X 射线能谱仪（EDS）结合使用，将形貌特征和元素信息结合起来。
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