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XTU-4C光谱测厚仪推荐书

简介：XTU-4C 是一款设计结构紧凑，模块精密化程度极高的镀层测厚仪，C 型开槽设计样品腔，让其满足了既可测量超微小样品的检测，同时还可满足超过样品腔尺寸的大工件测量。 被广泛用于各类产品的质量管控、来料检验和对生产工艺控制的测量使用。
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  • 上传人： 深圳一六仪器有限
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相关产品：涂镀层测厚仪XTU-4C | 镀层测厚仪XTU-4C
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