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M6型飞行时间二次离子质谱（TOF-SIMS） 产品彩页 中文

简介： M6 是 IONTOF 在 TOFSIMS 5 基础上开发的新一代高端飞行时间二次离子质谱（TOF-SIMS）仪器，对一次离子源（LMIG）和质量分析器（TOF Analyser）进行了突破性的改进。 此外，在硬件方面还增加了 MS/MS 功能选项，重新设计了加热和冷却系统； 详细>
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