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原位X-射线衍射高低温样品台（XRD冷热台）

简介：文天精策XRD冷热台现有两款产品，可以实现的温度控制范围分别为：-190°C~600°C，RT~1200°C，在空气、惰性气体或真空的环境条件，与常见的X-射线衍射仪配套使用。XRD冷热台适合各种类型的样品在高低温下进行X-射线结构研究，多种样品架可配合反射和透射模式，支持在现有各种X-射线衍射仪（布鲁克、赛默飞、理学等）上改造适配。
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相关产品：文天精策 原位拉伸冷热台 CH | 文天精策 XRD变温样品台 H12 | 文天精策 帕尔贴冷热台 PE15 | 文天精策 显微镜变温样品台
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