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《全反射X荧光分析技术（TRXF）》

简介：　　全反射X荧光分析技术，是一种在X荧光分析技术基础上发展起来的全新技术，其主要特征是通过反射技术去掉在通常X荧光分析中高能散射本底的影响，提高了分析灵敏度，分析刻度简单，分析样品量少（微克量级），设备简单，于八十年代中期开始出现商品。
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