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专家著述(2004)：超薄切片表面高低起伏反差机制的初步探索

简介：自AFM发明以来，用它来进行各种超薄切片表面形态学研究的报道屡见不鲜，包括形态学的比较研究、关键结构的识别、精细结构的定量化研究等等。但是长期以来一个关键性的问题就是：为什么用超薄切片法得到的各种厚度不同的超薄切片表面会存在纳米级的高低起伏？
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