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MV_RR_CNJ_0009 转靶多晶体X 射线衍射方法通则

简介：标准规定了用多晶体X射线衍射仪在室温、高、低温条件下对各 种多晶材料进行物相组成的定性分析、物相组成的定量分析、晶粒的大小(范围约为1nm～200nm)及晶粒内点阵畸变的测定。属立方晶系晶体的点阵常数的测定的一般方法。 本标准适用于各种多晶体材料，如金属与合金、矿物与土壤、陶 瓷与建筑材料、有机与无机化合物、药物与聚合物及环保试样等。主要适用于衍射仪法，但可参照使用于照相法。
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