中文名称:电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 介质损耗角正切值的测试方法
英文名称:Test methods for properties of structure ceramic used in electronic components--Test method for dielectric loss angle tangent value
ICS分类:31.030
中标分类:L32
发布日期:1985-11-27
实施日期:1986-12-01
替代标准:
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