中文名称:半导体器件 机械和气候试验方法 第1部分:总则
英文名称:Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods. Part 1: General
ICS分类:31.080.1
中标分类:L40
发布日期:2006-08-23
实施日期:2007-02-01
替代标准:GB/T 4937-1995
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