中文名称:用光学干涉仪测量反射薄膜残余应力的标准试验方法
英文名称:Standard Test Method for Residual Strain Measurements of Thin, Reflecting Films Using an Optical Interferometer
ICS分类:37.040.20 (Photographic paper, film and plates. Cartridges)
中标分类:N50
发布日期:2005
实施日期:
替代标准:
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