中文名称:微电子装置的电离辐射效应试验中 X 射线测试仪(近似等于10 keV 辐射量子)的使用的标准指南
英文名称:Standard Guide for Use of an X-Ray Tester ([approximate]10 keV Photons) in Ionizing Radiation Effects Testing of Semiconductor Devices and Microcircuits
ICS分类:31.020 (Electronic components in general)
中标分类:N78
发布日期:1999
实施日期:
替代标准:
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