中文名称:评估硅电子器件辐射强度试验用钴60辐射源的低能伽马成分的电离箱应用的标准试验方法
英文名称:Standard Test Method for Application of Ionization Chambers to Assess the Low Energy Gamma Component of Cobalt-60 Irradiators Used in Radiation-Hardness Testing of Silicon Electronic Devices
ICS分类:31.020 (Electronic components in general)
中标分类:F80
发布日期:2010
实施日期:
替代标准:
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