中文名称：评估硅电子器件辐射强度试验用钴60辐射源的低能伽马成分的电离箱应用的标准试验方法

英文名称：Standard Test Method for Application of Ionization Chambers to Assess the Low Energy Gamma Component of Cobalt-60 Irradiators Used in Radiation-Hardness Testing of Silicon Electronic Devices

ICS分类：31.020 (Electronic components in general)

中标分类：F80

发布日期：2010

实施日期：

替代标准：

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