中文名称:半导体装置及集成电路电离辐射效应X射线测试仪(≈10 keV光子量)的标准使用指南
英文名称:Standard Guide for Use of an X-Ray Tester (<span class=''unicode''>x2248;</span>10 keV Photons) in Ionizing Radiation Effects Testing of Semiconductor Devices and Microcircuits
ICS分类:31.020 (Electronic components in general)
中标分类:N78
发布日期:2011
实施日期:
替代标准:
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