中文名称:光学元件和光学系统的干涉测量.表面形式和波阵面变形公差的术语和定义
英文名称:Interferometric measurement of optical elements and systems -- Terms and definitions of surface form and wavefront deformation tolerances
ICS分类:37.020
中标分类:N30
发布日期:2010-05-20
实施日期:
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