中文名称:透射电子显微镜选区电子衍射分析方法
英文名称:Method of selected area electron diffraction for transmission electron microscopes
ICS分类:37.020;17.180
中标分类:N33
发布日期:2002-12-05
实施日期:2003-05-01
替代标准:
安装App资料免费下
资料微服务您的资料助手