中文名称:用半导体γ谱仪分析低比活度 γ放射性样品的标准方法
英文名称:Standard methods of analyzing low specific gamma radioactivity samples by semiconductor gamma spectrometers
ICS分类:13.280
中标分类:C57
发布日期:1989-09-21
实施日期:1990-07-01
替代标准:
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