中文名称:半导体X射线探测器系统和半导体X射线能谱仪的测量方法
英文名称:Measurement procedures for semiconductor X-ray detector system and semiconductor X-ray energy spectrometers
ICS分类:27.120.01
中标分类:F80
发布日期:2003-07-07
实施日期:2004-01-01
替代标准:GB/T 8992-1988;GB/T 11685-1989
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