中文名称:锑化铟单晶位错蚀坑的腐蚀显示及测量方法
英文名称:Standard method for showing and measuring dislocation etch pits in Indium Antimonide single crystal
ICS分类:29.040.30
中标分类:L32
发布日期:1989-03-31
实施日期:1990-01-01
替代标准:
安装App资料免费下
资料微服务您的资料助手