四探针方阻测试探头 4PP光伏硅片4点探头 KLA、CDE、NAPSON 原厂；晶圆 ITO薄膜电阻探头

四点探针头是用于方阻测试设备上的精密零件，我公司生产的探头能适配到国内外所有的方阻测试设备上，稳定性和一致性十分优秀；

无缝替代由国外生产的探头JANDEL、CDE等国外品牌，打破国外技术垄断和封锁。探针的针尖材料一般是用碳化钨。

每一种探头的主要选择配置参数：

     A，探头主体材料及外形尺寸

     B，针尖半径

     C，针头的间隔

     D，针头的负载

     E，针头排列，线型，或者正方形。

     F，连接方式： 连接器，或导线联接及长度

主要的应用领域：

    硅片电阻率的测量。

    晶圆的电阻率的4点测量。

    外延、离子注入层的4点电阻测量。

    金属薄膜和其他薄膜的4点电阻测量。