C-flat和Au-flat于2005年首次推出，已成为结构生物学界的行业标准TEM载网。在很大程度上，冷冻电镜和单颗粒分析（SPA）技术的快速增长的推动下，数百万个C-flat载网已被研究者使用，用来鉴定包括病毒和膜蛋白在内的结构。
C-flat是一种超平坦、多孔的碳支持膜，用于透射电子显微镜（TEM）。与竞争的多孔碳膜不同，C-flat是在没有塑料的作为中间环节的情况下制造的，因此它是干净的，没有残留物。
优势
C-flat带来更好的数据集。
采用专利的技术制成，C-flat提供超平坦的表面，从而有更好的颗粒分散和更均匀的冰厚。C-flat的精确制造工艺消除了诸如多余碳和孔周围边缘等伪影。
应用
C-flat有孔碳膜提供理想的样品支持，可在冷冻透射电镜中获得高分辨率数据，使其成为单颗粒分析、冷冻电子断层扫描和自动 TEM 分析的理想选择。
冷冻电子断层扫描（cryoET）和单颗粒分析（SPA）：
许多研究人员报告说，C-flat™的超平坦表面能够获得均匀的冰厚和孔区域内均匀的颗粒分布。与其他多孔支撑膜相比，这种最佳颗粒分布可收集出更好的数据。标配2μm孔尺寸。
自动透射电镜
C-flat提供一系列与Leginon等自动数据收集软件兼容的常规分析站点。这种兼容性，加上许多研究人员报告的更均匀的冰厚度和颗粒分布，使每个网格产生更高质量的目标位
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