UV-470 光谱仪内含一个像差校正的凹面全息光栅，在UV区域提供极限性能。UV-470光谱仪的工作光谱范围为190-850 nm。
单个全息光学元件设计，提供低杂散光（0.07%@340nm），能够提高信噪比。关于OEM应用，您可以选择狭缝地尺寸或订购不带驱动板的UV-470
| 光栅类型 | 470 g/mm 像差校正凹面光栅。(aberration corrected concave grating) |
| 焦距 | 70mm |
| 光谱范围 | 190-850 纳米 |
| 解决(Resolution) | 1.4 纳米 @ 190-850 纳米 |
| 丁腈橡胶( F Nbr) | 2.0 |
| 信噪比 | 1200:1 |
| 杂散光@340nm | <0.07% |
| 杂散光@435nm | <0.01% |
| 分散 | 21.3 nm/mm |
| 狭缝尺寸 (Slit Size) | 15 微米标准。25、50 和 100 μm 可根据要求提供 |
| 动态范围 | 2000:1 |
| 积分时间 | 0.1 毫秒至 6.5 秒 |
| 像素大小 | 8 微米 x 200 微米 |
| 像素井深度 (Pixel Well Depth) | 100,000 个电子 |
| A/D 分辨率 (A/D Resolution) | 16 位 |
| 光纤输入 | SMA 905, 0.22 NA |
| 界面 | USB 2.0 |
| 力量 | 300 毫安通过 USB |
| 操作系统 | 视窗 XP / 视窗 7 |
| 方面 | 96.5 x 72.5 x 63.5 毫米 |
| 重量 | 1.09 磅（0.5 公斤） |
| 工作温度 | 0° 至 55°C |
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