适用AFM、SEM、Auger和 FIB
精确全息条纹可用于高分辨、纳米尺度上准确校准仪器，具有高稳定性和高适用性特性。中等脊线宽度便于AFM应用。扫描电镜成像时二次电子和背散射电子像反差好。条纹间隔宽度分70、145 、293nm三种。
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