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AMPTEK X射线探测器FASTSDD大面积探测器 X光探测器
基本信息:
价格:面议
供货周期:现货
品牌:AMPTEK
供应商: AMPTEK INC.
货号:

0

 
参数规格:
规格:
70mm2
                     
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产品介绍

匠心艺术之作

70mm2 FAST SDD


 

Amptek最新研发了一款TO-8封装的70mm2 FAST SDD探测器。它的封装和Amptek其他所有探测器封装一样。这样使得70mm2 FAST SDD成为非常方便的替代品。在同样性能下,计数率是25mm2SDD探测器的3倍。

特性


 

l  70mm2有效面积准直到50mm2

l  123ev FWHM @5.9keV

l  计数率>2,000,000cps

l  高峰背比-26000:1

l  前置放大器上升时间<60ns

l  窗口:Be(0.5mil) 12.5umC2(Si3N4)

l  抗辐射

l  探头晶体厚度500um

l  TO-8封装

l  制冷ΔT >85K

l  内置多层准直器

                         sdd70_2-1.jpg


  应用

l  超快台式和手持XRF光谱仪

l  SEMEDS系统的样品扫描或测绘样品

l  在线过程控制

l  X射线分拣机

l  OEM

 

70MM2 FWHM 谱图.jpg

 


FASTSDD-70规格参数


 

通用

探头类型

硅漂移探头(SDD

探头大小

70mm2准直到50mm2

硅晶体厚度

500um

5.9keV55Fe能量分辨率

峰化时间4us时,分辨率为123-135eV

峰背比

>20000:15.9keV1keV计数比)

探头窗口

Be:0.5mil(12.5um)C2Si3N4

准直器

内部多层准直器

电荷灵敏前置放大器

CMOS

增益稳定性

<20ppm/

外壳尺寸

XR-100FastSDD-70

3.00 x 1.75 x 1.13 in (7.6 x 4.4 x   2.9 cm)

重量

XR-100FastSDD-70

4.4盎司(125g

总功率

XR-100FastSDD-70

<2W

质保期

1

使用寿命

取决于实际使用情况,一般5-10

仓储和物流

长期存放:干燥环境下10年以上

仓储和物流:-40℃+85℃10%90%湿度,无凝结

工作条件

-35℃+80℃


TUV 认证

认证编号:CU 72101153 01

检测于:UL61010-1:2009 R10.08

CAN/CSA-C22.2 61010-1-04+GI1

输入

前放电源

   XR-100FastSDD-70

     OEM 配置

±8V@15mA,峰值噪声不超过50mV

 

PA210/PA230X-123±5V

探头电源

    XR-100FastSDD-70

-100-180V@25uA,非常稳定,

变化<0.1%

制冷电源

电流

电压

 

最大450mA

最大3.5V,峰值噪声<100mV

注: XR-100FastSDD-70包含它自身的温度控制器

输出

前放

灵敏度

 

极性

输出上升时间

反馈

 

典型的3.6mV/keV(不同的探头灵敏度不同)

正输出信号(最大1KΩ负载)

<60ns

复位型

温度监控灵敏度

根据配置不同而变化

当使用PX5DP5,或X-123时,直接通过软件读取开尔文温度


 
 

FastSDD-70 探头可用于Amptek所有的配置中

配置.jpg


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