降低荷电效应控温样品杯

控温样品杯应用低真空技术，在控温的同时将样品周围相对湿度控制在高水平，显著降低样品中水分的蒸发、升华，延长敏感样品的观测窗口时间。控温样品杯可以对样品进行冷冻或加热，改变样品周围湿度、气压。同时利用低真空技术，减小电子束轰击造成的荷电效应和样品损伤。

优点：阻止样品中水分的丧失，避免因脱水而造成的样品形变；保持样品原始形貌 ； 可以长时间观测生物、有机样品 ；降低电子束损伤。

样品尺寸：直径25mm；高5mm

控温范围：- 25℃ ～ + 50℃　

降温速率：20℃/min