SPELEC 结合了仅有一个光源箱、一个双恒电位仪/恒电流仪和一个光谱仪（UV/VIS 波长范围：200-900 nm），并配有软件，可同步进行光学和电化学实验。
技术参数：
| SPM A/D 分辨率 | 16 位 |
| SPM 信噪比 | 250:1（满信号） |
| SPM 像素 | 2048 |
| SPM 像素井深 | 62500 电子 |
| SPM 像素大小 | 14 μm x 200 μm |
| SPM 光学分辨率 | 0.3+10.0 nm FWHM |
| SPM 动态范围 | 8.5 x 10 调至 7（系统）；1300:1 针对单次采集 |
| SPM 暗噪声 | 50 RMS 计数 |
| SPM 杂散光 | ≤ 0.05 % 于 600 nm；< 0.10% 于 435 nm |
| SPM 波长范围 | 200-900 nm |
| SPM 积分时间 | 1 ms 至 65 秒 |
| 仪器重量（公斤） | 1.95 |
| 光源（LS）波长范围 | 215-400 nm（氘气）；360-2500 nm（卤钨灯） |
| 光源光纤连接器 | SMA 905 |
| 光源灯泡寿命 | >1000 小时 @ 240 nm（时间）；<50% @ 240 nm（强度降低）；连续运行（测试条件） |
| 光源点火延迟 | <2.0 秒（冷启动延迟可能会更长） |
| 光源稳定性 | 30 分钟预热后 1.0% 峰-峰（超过 4 小时） |
| 光谱仪（SPM）检测器 | 线性硅 CCD 阵列 |
| 多通道仪器 | 否 |
| 尺寸 mm（宽/高/厚) | 24 x 11 x 25 |
| 工作电极共享辅助电极和参比电极最大数量 | 2 |
| 操作模式 | 双恒电位仪；恒电位仪；恒电流仪 |
| 最大电流（安培） | ±40 mA |
| 最大通道数 | 1 |
| 测得电位分辨率 | 0.012 % 电位范围 |
| 测得电流分辨率 | 0.025 % 电流范围 |
| 电位分辨率 | 1 mV |
| 电位精度 | ±0.2% |
| 电位范围（伏特） | ±4V |
| 电位范围数量（恒电流） | 2 |
| 电位范围数量注释（恒电流） | ±100 mV 至 ±1 V |
| 电流分辨率 | 0.1 % 电流输出范围 |
| 电流精度 | 100 nA 至 10 mA 时 ≤0.5 % 电流范围 |
| 电流范围数量 | 8 |
| 电流范围数量注释 | ±1 nA 至 ±10 mA |
| 电源 | 12 V DC |
| 至光源稳定输出的时间 | 10 分钟（氘气）；1 分钟（卤钨灯） |
| 计算机接口 | USB |
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