产品特点：
u 以穿透、半穿透方式测量TFT、STN，以及不同驱动模式的VA、IPS及强诱电性液晶，也支持反射型TFT、STN液晶。视用途，从研发到品管皆有完整对应机种。
u 除检测液晶层间隙(Cell gap)，也可测量液晶面板及液晶材料相位差。椭圆率、方位角等偏光解析，光学轴、色度、穿透、反射光谱等综合性的多功能检测装置。
产品规格：
| 样品对应尺寸 | 20mm×20mm～大型尺寸玻璃基板（2000mm×2000mm以上） |
| 液晶层间隙测量范围 | 0.1μm～数十μm |
| 液晶层间隙测量再现性 | ±0.005μm |
| 检测器 | 分光光谱仪 |
| 测量波长范围 | 400～800nm |
| 光学系统 | 偏光光学系统 消光率10-5方解石偏光（Gran-tomson prism） 自动旋转（角度 精度0.1o） 自动装卸装置 |
| 测量口径 | Φ2，5，10（mm） |
| 光轴倾斜角度 | -10～45o（选配功能） |
| 重量 | 约60kg |
光学配件：
相位差膜,椭圆膜,偏光膜,液晶显示器材料
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