The 8th Chinese Conference on Secondary Ion Mass Spectrometry (SIMS-China
VIII) December 9-12, 2020 Zhuhai, Guangdong 中国二次离子质谱会议自1993年以来,至今已经成功举办了七届,已经成为全国二次离子质谱领域的盛会。中国二次离子质谱会议旨在促进二次离子研究领域的学术交流,带动学科研究,为领域内专家学者搭建一个交流和展示的平台。 第一届会议于1993年5月31-6月5日在北京清华大学举行;第二届会议于1998年4月6-10日在北京清华大学举办;第三届会议于2005年1月15-10日在台湾新竹清华大学举办;第四届会议于2008年10月26-29日在北京中国矿业大学举办;第五届会议于2014年10月18-20日在北京中科院地质与地球物理研究所举办;第六届会议于2016年10月8-11日在大连中国科学院大连化学物理研究所举办;第七届会议于2018年10月9-12日在苏州纳米技术与纳米仿生研究所举办。 2018年二次离子质谱会议上,委员会通过第八届会议由中山大学和香港科技大学联合承办,会议时间2020年12月,会议地点珠海,会议规模为约100名正式代表。 中国二次离子质谱会议上级发起单位是中国真空学会。 一、 会议组织机构(待定) 会议主办单位:中国真空学会 会议承办单位:中山大学 会议协办单位:香港科技大学 材料测制实验所 二、 会议组委会 三、会议交流内容及交流形式 会议交流形式包括大会报告(45 分钟)、邀请报告(25 分钟)、口头报告(15 分钟) 及墙报。本次会议主要内容如下: (1)二次离子质谱仪器和理论; (2)半导体/微电子科学中的表面和剖面分析; (3)地球科学中的元素与同位素分析; (4)核科学中的微区分析和同位素分析; (5)材料的微区分析、表面分析和3D分析; (6)生命科学和临床医学中质谱原位分析、质谱成像和单细胞质谱分析; (7)环境科学中的微区和原位分析; (8)微纳尺度样品的质谱分析; (9)二次离子质谱的样品前处理方法和复杂样品分析; (10)原子探针/聚焦离子束/质谱原位分析新技术; (11)新型离子源(纳米/团簇)和后电离技术; (12)质谱成像数据分析、数据处理、数