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中杂质元素含量。抛光制程中,激光粒度仪可用于CMP研磨液粒径测量。封装制程中,显微X射线荧光可用于集成电路封装布线中的离子迁移、缺陷、短路分析等。报告中,熊洪武还详细介绍...
2020-11-05 10:55:27
展台?在此次展会上,奥林巴斯ANI(X射线荧光分析仪/X射线衍射分析仪)、NDT(无损检测)、RVI(工业内窥镜...方面有着出色表现的VANTA Element-S手持式X射线荧光(XRF)分析仪,吸引了众多专业人士的...
2020-11-05 09:43:11
200项行业标准报批公示 ICP-OES、XRF等仪器分析方法在列
标准目录来看,其中多项涉及了仪器及分析检测方法,如化工用在线气体质谱分析仪、电感耦合等离子体发射光谱法、X射线荧光分析方法、红外吸收法等。部分摘录如下:标准编号 标准名称 标准主要内容 代替标准 HG/T 5831...
2020-10-28 09:58:54