自1929年成立以来，CAMECA不断为国际一流科研机构提供大型材料分析仪器，并为半导体行业的精准测量需求提供解决方案。CAMECA在多个尖端微量分析技术上开拓进取，精益求精，所提供的设备包括：?二次离子质谱仪(SIMS)?三维原子探针断层分析术(APT)?电子探针微量分析(EPMA)?低能量电子激发X射线发射光谱(LEXES)