IONTOF是由AlfredBenninghoven教授，Dr.EwaldNiehuis和ThomasHeller先生于1989年创立，创始人Prof.Benninghoven教授是国际静态二次离子质谱的奠基人，他们团队始终带领国际二次离子术的发展，从上世纪80年代初开始，Benninghoven教授和他的研究组就致力于飞行时间二次离子质谱的系统和应用研究。依托于明斯特大学和州纳米中心的技术和人才优势，TOF-SIMS已经发展成为无可替代的表面分析手段。 TOF.SIMS5从2003年定型到现在已经成为市场上相当成功的飞行时间二次离子质谱系统。到2016年，世界上已经有超过350套高性能的TOF.SIMS系统成功地应用在世界各地的公司和学术研究机构中。
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