PNDetector的硅漂移探测器(SDD)拥有该领域顶尖技术,它不仅拥有出色的能量分辨率,而且处理速度更快。除了单芯片配置，我们还构建了多元化复合型和拥有大面积的硅漂移探测器,且其具有最大立体角的独特构造特征。这些产品在扫描电子显微镜(SEM),透射电子显微镜(TEM),X射线荧光光谱仪(XRF)和全反射X射线荧光光谱(TXRF)等仪器中被广泛使用。 PNDetector的背散射电子探测器(BSD)能够高速成像,并具有极低的噪声特性。在1keV到300keV的能量范围中具有超高的收集效率。 在最新研究成果中，我们开发了一款PNCCD摄像系统(ChargeCoupledDevicecamerasystem)用于透射电子显微镜中的超快速直接电子检测。