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型号:JW-TB400高通量比表面积及孔径分析仪
公司:北京精微高博仪器有限公司
核心参数
  • 仪器原理:静态法(静态体积法)
  • 压力范围:10^ -5 - 0.998
  • 测试理论:静态容量法
  • 测试范围:比表面积:>0.0005 m 2 /g
  • 分析站数目:4个
  • 仪器种类:比表面及孔径分析仪
  • 产地类别:国产
仪器简介
TB系列比表面积及孔径同步分析仪,是北京精微高博仪器有限公司推出的表征微纳米粉体材料表面物性及孔结构的仪器。该仪器采用最常用、最可靠的静态容量法气体吸附法分析材料的吸附行为。测试过程中多个样品共用同一杜瓦瓶同一气源进行测试分析,保证分析测试的准确性和重复性,真正实现多站间无差异化分析。
可表征各种非腐蚀性气体的吸附过程。
产品优势

稳定性:Vctrl防抽飞控制系统,避免气路污染;
Vspace冷自由空间控制技术,保证测试结果稳定性;
Vstable稳定测试技术,保证分析结果准确性和重复性;
Vlevel页单面控制技术,自主研发大容量杜瓦瓶,长时间保证高真空度,使用寿命长,安全性高。

可靠性:比表面分析范围>0.0005 m2/g,标准样品重复性≤1%
孔径分析范围0.35nm-500nm, 孔径重复性≤0.2nm。

售后服务:售后服务站点:6个;
售后工程师数量10个;

典型应用
应用1:锂电/钠电硬碳负极材料的比表面分析
应用2:药物辅料(硬脂酸镁、蒙脱石等)的比表面分析
应用3:垃圾焚烧行业中用于去除尾气中二噁英的活性炭的比表面分析
获奖信息
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