仪器信息网 3i讲堂 ToF-SIMS 最新一代M6表面分析技术和应用进展

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57 2023-06-25

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ToF-SIMS 最新一代M6表面分析技术和应用进展

所属会议:第十届表面分析技术应用论坛暨表面化学分析国家标准宣贯会网络研讨会

ToF-SIMS作为一种特殊的表面分析技术，可以接近无损的获取最表面的元素、同位素、分子等信息，拥有高质量分辨和横向空间分辨的同时，还能对样品进行高纵向空间分辨的深度剖析以及三维分析。本报告主要从ToF-SIMS原理和工作模式、最新一代M6的性能优势和技术特色、可选择的多功能解决方案、材料表征和实际的应用进展等几个方面进行技术分享。