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仪器信息网 3i讲堂徕卡：扫描电镜平整截面样品的制备方案介绍-第三届电镜网络会议（iCEM2017）

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5809 2017-06-29

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徕卡：扫描电镜平整截面样品的制备方案介绍-第三届电镜网络会议（iCEM2017）

所属会议:第三届电镜网络会议（iCEM 2017）

电镜网络会议（iConference on Electron Microscopy,iCEM）由仪器信息网于2015年在业内首次发起，旨在利用互联网技术让电子显微学工作者足不出户便能聆听到电子显微学专家的精彩报告。　第三届电镜网络会议(iCEM 2017)将于2017年6月21日-23日如期举办，届时将邀请16位专家围绕广大用户感兴趣的技术领域组织报告，涉及原位透射电子显微学技术、高分辨电子显微学技术、材料样品制备技术、EDS/EBSD技术、扫描电镜应用及维护、生物电镜样品制备技术、冷冻电子显微学技术等领域。报告人简介程路，徕卡电镜制样资深高级应用工程师，从事电镜应用和电镜样品制备工作近十年时间。

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