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姚文清（清华大学）
【报名地址】
http://www.instrument.com.cn/webinar/meetings/xps/
【报告人介绍】
姚文清，高级工程师。国家电子能谱中心副主任，清华大学分析中心表面分析室主任。自1995年以来，一直从事表面化学分析方法学研究和分析仪器研制。先后主持承担科技部创新方法专项、国标委标准制定专项、国家基金委面上等项目多项。完成制定仪器分析方法国际标准1项、国家标准14项，国家发明专利授权和申请5项。以第一作者和通讯作者发表论文30篇，合作论著2部。研究成果获得：国家自然科学奖二等奖1项，教育部自然科学奖一等奖2项、二等奖1项，教育部科学技术进步奖（基础类）二等奖1项。
【报告内容简介】
样品的正确处理和制备对于分析尤其是表面分析是极为重要的，俄歇电子能谱（AES）、X射线光电子能谱仪（XPS）、二次离子质谱（SIMS）等表面分析技术通常对几纳米厚度的表面敏感，不正确的样品处理会导致表面组成改变和数据不可信，严重影响测试结果。本报告表述了在使用任何表面敏感的分析技术时，把样品制备和安装的影响降低到最小的方法。
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