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“XPS X射线光电子能谱分析国家标准宣贯与实施”网络主题研讨会特邀专家报告--《GB/T 30704-2014 表面化学分析 X射线光电子能谱分析指南》

仪器信息网2018/02/23点击3757

刘芬(中科院化学所)

 

【报名地址】

http://www.instrument.com.cn/webinar/meetings/xps/ 

 

【报告人介绍】

刘芬,中科院化学所副研究员,全国微束分析标准化技术委员会表面化学分析分技术委员会秘书长。制定国家标准多项。

 

【报告内容简介】

X射线光电子能谱(XPS)被广泛用于材料的表面分析。近十年来,我国XPS谱议数量及XPS相关的学术论文数量呈现飞跃式发展趋势。为了帮助X射线光电子能谱仪的操作者规范地使用XPS谱仪,准确地进行典型样品有效和有意义的XPS分析,对国家标准《X射线光电子能谱 分析指南》 GB/T30704—2014/ISO 10810:2010的解读与宣贯是必要的。在XPS分析中,将所测芯能级结合能与各种元素的结合能表对照能有效地识别样品中的元素(除H、He之外)。与纯元素态的数据比较,根据谱峰位移以及其它参数的变化可以确定元素的化学态。用所测光电子峰的强度信息可以得到元素的定量分析。

         

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