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吴正龙（北京师范大学）
【报名地址】
http://www.instrument.com.cn/webinar/meetings/xps/
【报告人介绍】
吴正龙，北京师范师范大学分析测试中心 教授高工。长期在北京师范大学分析测试中心负责电子能谱实验室、荧光和拉曼光谱实验室分析测试和教学工作。熟悉表面分析和光谱分析技术。主要从事薄膜材料、稀土发光材料和表面增强拉曼光谱技术的研究，在国内外期刊发标多篇学术论文。近年来，多次在校内外组织参加电子能谱应用技术培训。
【报告内容简介】
目前，XPS定量分析均多采用灵敏度因子法。XPS灵敏度因子成为影响XPS分析的关键参数。本宣贯报告意在帮助XPS分析和使用人员准确解读、规范使用XPS灵敏度因子。为了提高定量分析的准确度，需要对灵敏度因子进行校正，甚至采用实验测定的灵敏度因子。报告内容力求通俗、易懂、实用，通过具体实例讲述灵敏度因子的使用。
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