随着我国航天、微电子信息产业、材料、能源及环境等高新技术的发展,表面分析技术日益发挥其重要的作用。为积极推动表面分析科学与应用技术的快速发展,加强同行之间交流合作与仪器共享,展示相关领域新成就、新进展,由仪器信息网联手国家大型科学仪器中心-北京电子能谱中心在清华大学共同主办“第二届表面分析技术应用论坛——X射线光电子能谱仪使用及分析规范”网络主题研讨会。
此次应用研讨会旨在建立表面分析的交流平台,以期在自由研讨的学术氛围中让思想碰撞出火花,共同提升理论与技术水平, 促进表面分析科学研究队伍的壮大。组织方也希望通过此次表面化学分析标准宣传贯彻实施和应用研讨会,协助全国各表面分析实验室、相关科研及企事业单位更好地理解、执行这些标准,并在严格履行相应标准的过程中逐步提高分析技术水平与技能,提供更准确、客观的分析结果,提升产品的质量,促进国民经济发展。
09:30-10:40 | GB/T 30704-2014 表面化学分析 X射线光电子能谱 分析指南 | 刘芬(中科院化学所) |
10:40-11:50 | XPS定量分析中的灵敏度因子 | 吴正龙(北京师范大学) |
13:30-14:40 | X射线电子能谱-能量标尺的校准 | 谢景林(北京大学) |
14:40-15:50 | 表面化学分析样品前处理 | 姚文清(清华大学) |
09:30 | GB/T 30704-2014 表面化学分析 X射线光电子能谱 分析指南 | |
刘芬(中科院化学所) | ||
10:40 | XPS定量分析中的灵敏度因子 | |
吴正龙(北京师范大学) | ||
13:30 | X射线电子能谱-能量标尺的校准 | |
谢景林(北京大学) | ||
14:40 | 表面化学分析样品前处理 | |
姚文清(清华大学) |