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原子力显微镜在高分辨定量测量材料特性方面的应用进展-2013年布鲁克原子力显微镜测量技术系列讲座第三讲
其他光学仪器及设备
会议时间: 2013-05-21 10:00
主讲老师:
所在公司: 德国布鲁克纳米表面仪器部
报告介绍
2013年布鲁克原子力显微镜测量技术系列讲座第三讲——原子力显微镜在高分辨定量测量材料特性方面的应用进展
原子力显微镜至今已经有了三十余年的历史，随着原子力显微镜技术的发展和研究的深入，人们已不仅限于利用原子力显微镜进行表面形貌的表征。布鲁克公司始终致力于原子力显微镜最新技术的应用和研发。峰值力轻敲模式（PeakForce Tapping）技术是布鲁克公司最新的专利技术，利用此成像技术，人们可以在高分辨AFM成像的同时，获得材料表面的力学信息（模量、粘附性质、形变等）和材料的电学性质。
本期报告主要内容：
1. 峰值力轻敲模式的基本原理及应用实例
2. 定量纳米力学测量原理及应用
3. 定量纳米电学测量原理及应用
4.有机光伏材料的定量高分辨研究
主讲老师
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