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“材料表面与界面分析”网络主题研讨会
研讨会介绍
材料科学、信息科学和生命科学是当前新技术革命中的三大前沿科学,材料的表界面在材料科学中占有重要的地位。材料的表界面对材料整体性能具有决定性的影响,材料的腐蚀、老化、硬化、破坏、印刷、涂膜、粘结、复合等等,无不与材料的表界面密切有关。因此研究材料的表界面现象具有重要的意义。
如何更有效地测量材料的表界面情况,对其进行更深入地研究,成为颇具潜力的一个研究领域。2016年8月24日,仪器信息网邀请表界面分析领域专家举办“材料表面与界面分析”网络主题研讨会,欢迎报名参加。
本次会议中程志海(国家纳米科学中心 纳米标准与检测重点实验室)老师将在简要介绍扫描探针显微技术的基础上,重点介绍原子力探针显微技术的理论、仪器与方法基础,基本工作模式及其应用,最新技术和方法进展等。在此基础上,我们将进一步介绍原子力显微技术的功能化探测模式及其微纳米尺度物性研究与测量中的应用。最后,我们将简要探讨原子力显微术的进一步研究发展方向等。
报告内容
“材料表面与界面分析”网络主题研讨会
会议时间
会议主题
演讲人
2016年08月24日
09:30 - 12:00
精彩回放
XPS中化学信息及表界面分析应用
朱永法(清华大学
精彩回放
光谱流变联用技术及界面流变学
祝旻卿(赛默飞)
精彩回放
原子力显微术及其研究进展
程志海(国家纳米科学中心 纳米标准与检测重点实验室)
已结束
参会条件
开课时间:2016年08月24日 09:30 (教室于 2016年08月24日 09:00 开放)
报名条件:只要您是仪器信息网注册用户均可参加!
环境配置:只要您有电脑、外加一个耳麦就能参加。(需要进行音频交流的用户需准备麦克)
会议平台不支持WinXP系统,请大家使用Win7或Win8系统,IE或火狐浏览器登陆
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538677449
参会说明
用户报名参会后,若通过审核,两日内将会 收到1 封电子邮件通知函,请注意查收,并按提示进入会议室!(为了使您的报名申请顺利通过,请填写完整而正确的信息)
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