氮化硅薄膜膜厚标准物质
标准物质编号:GBW13962
中文名称:氮化硅薄膜膜厚标准物质
英文名称:Thin Film Thickness CRM of Si/Si3N4
应用领域:光学特性
标准物质用途:校准仪器和装置;评价方法;工作标准;质量保证/质量控制;其他
保存条件: 真空包装,阴凉、干燥处存放
使用注意事项:样品开封使用应保证取样工具等洁净,避免样品沾污。
量值信息:
| 标准值 | 不确定度 | 单位 |
氮化硅薄膜膜厚 | 104.91 | 0.32 | nm |
氮化硅薄膜膜厚标准物质 GBW13962信息由北京豫维科技有限公司为您提供,如您想了解更多关于氮化硅薄膜膜厚标准物质 GBW13962报价、型号、参数等信息,欢迎来电或留言咨询。除供应氮化硅薄膜膜厚标准物质 GBW13962外,北京豫维科技有限公司还可为您提供GNM-M45751-2013 ICP-MS-45种元素混标(钡铋镝铥铒钒钆钙镉铬汞钴钬镓钾镧锂磷镥铝镁锰钠镍钕硼铍镨铅铷铯钐砷铈锶铽铁铜硒锌钇镱银铕) 、QC-MU-704A 化妆品乳液中二噁烷定量分析质控样品、117组分 标气等产品,公司有专业的客户服务团队,是您值得信赖的合作伙伴。