TRILOS 粒度粒型先进测试系统

通过不断变焦的多元扫描，将视场内所有的颗粒信号全部捕捉后再将对应信号反射回仪器传感器单元，借助不同客制化的算法可以满足客户在粒径测量、粒度分布、2D颗粒形态、3D颗粒形态、体系稳定性分析等功能。运用此原理可以使仪器直接接触物料后即可测量，故被广泛运用于高温、高压、高粘度、高固含量及深色背景测量环境中。