德飞荧光电镜一体机 CLEM
1.可单独作为荧光显微镜，可单独作为扫描电镜，也可作为光电关联显微镜。三种使用方案可灵活选择，给用户带来更多效益；
2.传统光电关联显微技术，荧光和电镜图像是分别观察和获取的，两种图像需要人工后期匹配，引入误差；德飞使用户能在一台整合的显微镜3分钟内同时获得荧光和电镜图像，不需要在校准和叠加图像上花费时间，德飞采用高精度的机械设计和专利的自动图像叠加技术（专利号EP2896061A1），无须人工干预，就能得到精度高达50纳米的荧光和电镜叠加图像；
3.前所未有的显微镜整合，前置光学显微镜导航，底置荧光显微，顶置扫描电镜。
4.首次采用对射的光路结构，将荧光和电子光路完全整合，二者的位置和图像能自动关联，确保了两种光路表达的是同一信息，提供真实和准确的生物功能和结构信息；
5.德飞获得了美国（microscopy today ）的创新奖项，
http://www.microscopy-today.com/jsp/awards/awards.jsf